（1）外殼尺寸變差。槽型和反射型光電傳感器絕大多數的外殼采用塑料外殼，模具加工制造、注塑件的注塑以及冷卻過程都會惹起同一尺寸在不同塑料外殼之間的變化，這包括槽型光電傳感器發射器與接納器前槽縫寬度的變化、外殼上用于裝置發射器與接納器局部之間間隔的變化，反射型光電傳感器發射器與接納器前孔尺寸的改動、外殼上用于裝置發射器與接納器局部之間角度的變化等。這些尺寸的變化將惹起傳感器輸出電流的變化。

（2）裝配過程中產生的變差。槽型和反射型光電傳感器中發射器、接納器與外殼間的裝配與固定需求經過一定的工藝來完成，如槽型光電傳感器，對一些外殼資料可經過熱壓的方式將發射器和接納器與外殼固定。在裝配過程中，對槽式光電傳感器，發射器透鏡的光軸并不能保證與接納器透鏡光軸在同一條線上，一些產品偏離設計請求小一些，而另一些則偏離大一些；同樣，對反射型光電傳感器，發射器透鏡的光軸與接納器透鏡光軸的交點也不可能都如設計所請求正好位于反射物的外表上，有些產品的交點靠前，而另一些則可能靠后一些。這些裝配過程中的變差也會惹起傳感器輸出電流的變化。

（3）發射器輻射強度及其空間散布上的變化晶片位置對發射器輻射強度及在空間散布有影響。在設計條件下，晶片位于發射器透鏡的中心線上。但在發射器的消費制造過程中，固晶（die_attach）和封膠（encapsulation）這兩道工序都可能使晶片偏離中心線，而封膠過程形成的偏離普通會更大。圖3為同一晶圓（wafer）不同批次（lot）發射器輻射強度的散布。由圖可見，批次1輻射強度在0.07～0.08 mW/10°范圍內發射器的比例為34.2%，而批次2輻射強度在相同范圍內的比例為41.8%。由于發射器輻射強度的測試與發射器在光電傳感器中的運用條件普通并不相同，輻射強度在空間散布的變化有可能招致在相同條件下，裝配測試得到的高輻射強度發射器的光電傳感器，其輸出電流反而比裝配測試得到的低輻射強度發射器的光電傳感器低。另外，通常狀況下用于填充反射杯和掩蓋晶片的硅膠的折射率與封膠用的環氧樹脂（epoxy）的折射率非常接近，故硅膠與環氧樹脂接壤面的外形對發射器的輻射強度散布的影響很小。但若兩者有一定差異，則接壤面的外形會對發射器的輻射強度散布產生影響，這種狀況下控制點膠工序中所用硅膠的量相同或相近非常重要，以便使不同發射器硅膠與環氧樹脂接壤面的外形堅持分歧，防止由此惹起發射器輻射強度在空間散布的變化。

（4）測試誤差。在發射器與接納器測試過程中，由于機臺、測試人員不同，會招致測試結果的變差。圖4為3位測試人員在同一機臺測試相同的三個接納器樣品得到的結果。由圖可見，樣品2不同集電極電流測試值之間的較大差值以至略高于0.5 mA.測試誤差與機臺的丈量精度、測試過程中用于固定元件的夾具的精度等有關。

3進步產品良品率的措施

（1）合理肯定光電傳感器輸出電流的范圍。依據應用場所的不同，光電傳感器輸出電流的范圍有寬有窄。對輸出電流的范圍有較高請求的應用場所，需合理肯定范圍，過高的請求會招致產品良品率的降落，招致本錢增加。

（2）樣品應具代表性。在樣品制造階段，應從不同消費批次中抽取發射器和接納器來組裝傳感器樣品，從而在設計階段對一個批次中可用的發射器和接納器的比例有正確的估量，防止批量消費時良品率偏低。

（3）工藝與制造過程的控制。外殼尺寸的變化、裝配中發射器與接納器的固定、晶片位置的變化以及測試誤差都會招致傳感器輸出電流的變化，嚴厲控制外殼注塑工藝過程、傳感器的裝配過程、發射器與接納器的制造過程，是進步傳感器良品率的必要條件。另外，發射器與接納器測試前都應采用規范元件對測試機臺停止校準。

（4）分等級匹配。若光電傳感器輸出電流的范圍請求比擬窄，可思索將同一批次的發射器或接納器按輻射強度或集電極電流分紅兩至三個等級，高輻射強度發射器與低集電極電流接納器相匹配，或低輻射強度發射器與高集電極電流接納器相匹配，以進步同一批次中可用發射器和接納器的比例。在特定狀況下，如外殼本錢較高，以至可思索增加返工工序，交換不合格產品中的發射器或接納器，使其滿足對輸出電流的請求。

4結論

大多數應用場所對光電傳感器的輸出電流的范圍有一定請求，有些場所的請求還很苛刻，如何合理肯定發射器的輻射強度與接納器的集電極電流，以及光電傳感器的其他一些設計參數，是光電傳感器設計與研發中的一個關鍵。同時，發射器與接納器制造過程中的一些變差、外殼注塑及裝配過程中的變差、測試誤差等都會影響光電傳感器的輸出，需求對這些工藝及制造過程停止嚴厲控制。對輸出電流請求苛刻的光電傳感器，在制造過程中，還可思索將接納器與發射器按輻射強度與集電極電流停止分等級匹配，以進步產品良品率。